光的干涉:
1.定义:在两列光波的叠加区域,某些区域的光被加强,出现亮纹,某些区域的光被减弱,出现暗纹,且加强区域和减弱区域互相间隔的现象叫做光的干涉现象
2.发生干涉的条件:两列光的频率相同、相位差恒定和振动方向相同
能发生干涉的两列波称为相干波。如果两个光源发出的光能够发生干涉,这样的两个光源称为相十光源,相干光源可将同一束光分成两列光而获得
3.明暗条纹的条件:亮纹:
暗纹:
双缝干涉:
①中央为亮纹,两侧是明、暗相间的条纹,且亮纹与亮纹间、暗纹与暗纹问的距离相等。
②相邻两条亮纹(或暗纹)间的距离,其中d为两缝问的距离,L为缝到屏的距离,λ为光的波长。此式表明,相同装置,波长越长,干涉条纹越宽。
③若用白光做实验,则中央亮纹为白色,两侧出现彩色条纹。彩色条纹显示了不同颜色光的于涉条纹间距是不同的
双孔干涉:
中央是一条直亮条纹,两侧是明暗相间的条纹,形状为焦点相同的双曲线,两焦点连线与双孔连线平行
相关高中物理知识点:薄膜干涉
薄膜干涉:
光照射到薄膜上,被膜的前、后表面反射的两列光形成相干光
①劈形薄膜厚度均匀变化时,干涉条纹是与劈棱平行的明暗相间的直条纹,相邻条纹间距相等。
②某处两反射光相遇时的路程差为该处薄膜厚度的2倍,即
③观察薄膜干涉时观察者与光源应在薄膜的同侧。
④白光发生薄膜干涉时形成的是彩色条纹
干涉法检查平整度中凹凸情况的两种判定方法:
1.基本方法
如图甲所示,两板之间形成一层空气膜,用单色光从上向下照射,入射光从空气膜的上下表面反射出两列光波,形成干涉条纹。如果被检查平面是光滑的,得到的干涉图样必是等间距的。如果某处凹下去,则对应亮纹(或暗纹)提前出现,如图乙所示;如果某处凸起来,则对应条纹延后出现,如图丙所示。(注:“提前”与 “延后”不是指在时间上,而是指由左向右的位置顺序上)
2.旋转法
这是一种方便快捷地判定被检查平面上是凸起还是凹陷的经验性方法,而不是能从定理或定律推导得出的理论结果。具体方法是将干涉图样及装置一起在纸面内旋转90。。旋转方向是使装置的劈形空气膜劈尖向下,即装置成“V”字形。如在图甲中需逆时针转过90。,此时干涉条纹成水平状态,其上条纹弯曲处的凸起与凹下情况与被检查平面凸、凹情况一致。如在图中,逆时针旋过90。后,乙图中条纹凹陷,丙图中条纹凸起,说明对应于乙图的被检查平面上有凹下的地方,对应于丙图的有凸起处。
牛顿环:
凸透镜的弯曲表面是个球面,球面的半径叫做这个曲面的曲率半径。把一个凸透镜压在一块平面玻璃上,让单色光从上方射入(如图),从上往下看凸透镜,可以看到亮暗相问的圆环状条纹。这个现象是牛顿首先发现的,这些环状条纹叫做牛顿环,它是由两个玻璃表面之间的空气膜发生的薄膜干涉造成的。
在一平玻璃板上放一曲率半径很大的平凸透镜,如图所示,凸球面与平玻璃接触并构成尖劈形空气薄膜。当平行单色光垂直入射时,显示的一组等厚条纹是以接触点O为圆心的同心圆环,就是牛顿环。其亮、暗条纹的半径分别为
亮条纹:
暗条纹:
式中j为干涉级数,λ为波长,R为透镜的曲率半径。光从光疏介质射到光密介质界面发生反射时存在半波损失,故反射光所产生的牛顿环条纹的中心处是一暗点。对于透射光所产生的牛顿环条纹的中心是一亮点。牛顿环所产生的干涉条纹的规律是越靠近中心,条纹的级越低,条纹的宽度越宽。这一点可用劈尖干涉的结论来理解。如图,靠近中心处劈尖顶角减小, 增大。
利用牛顿环可以精确检测光学元件表面的精确度.可精密地测定压力或长度的微小变化。
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